Ansys基于
一流的三维高频电磁仿真软件

用户可以利用电子桌面中的无缝工作流程，其中包括先进的电磁场求解器，并动态地将其链接到功率电路模拟器，以预测电气设备的EMI/EMC性能。这些集成的工作流程避免了重复的设计迭代和昂贵的经常性EMC认证测试。多个电磁求解器旨在解决各种电磁问题，以及电子桌面中的电路模拟器，帮助工程师评估其电气设备的整体性能并创建无干扰设计。这些不同的问题包括辐射和传导发射、磁化率、串扰、射频密度、射频共存、共位、静电放电、电快速瞬态(EFT)、突发、雷击效应、高强度场(HIRF)、辐射危害(RADHAZ)、电磁环境效应(EEE)、电磁脉冲(EMP)、屏蔽有效性和其他EMC应用。

EMIT强大的分析引擎计算所有重要的射频相互作用，包括非线性系统组件效应。在复杂环境中诊断RFI在测试环境中是非常困难和昂贵的，但是使用EMIT的动态链接结果视图，可以通过图形信号回溯和诊断摘要快速识别任何干扰的根本原因，这些诊断摘要显示了干扰信号到达每个接收器的确切起源和路径。一旦发现干扰原因，EMIT能够快速评估各种RFI缓解措施，以达到最佳解决方案。新的HFSS/EMIT数据链允许在EMIT中直接从HFSS中安装的天线的物理三维模型创建RFI分析模型。这为射频环境提供了一个无缝的端到端工作流程，范围从大型平台共址干扰到电子设备中的接收器感知。

候选阵列设计可以在任何光束扫描条件下检测所有元件的输入阻抗。相控阵天线可以根据单元匹配(无源或驱动)在任何感兴趣的扫描条件下的远场和近场模式行为，优化单元、子阵列或完整阵列级别的性能。无限阵列建模涉及一个或多个天线元件放置在一个单元格内。该单元在周围的壁上包含周期性的边界条件，以镜像场，创建无限数量的元素。元件扫描阻抗和嵌入元件辐射模式可以计算，包括所有相互耦合效应。该方法特别适用于预测在特定阵列波束转向条件下可能发生的阵列盲扫描角度。有限阵列仿真技术利用单元单元进行域分解，快速求解大型有限尺寸阵列。该技术可以进行完整的阵列分析，以预测所有相互耦合、扫描阻抗、元素模式、阵列模式和阵列边缘效应。

它包括EMIT，一种独特的多保真方法，用于在具有多干扰源的复杂射频环境中预测射频系统性能。EMIT还提供了快速识别根本原因RFI问题和在设计周期早期减轻问题所需的诊断工具。

带SI电路的HFSS可以处理复杂的现代互连设计，包括ic、封装、连接器和pcb。通过利用HFSS先进的电磁场仿真能力与强大的电路和系统仿真动态关联，工程师可以在构建硬件原型之前就了解高速电子产品的性能。